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博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀 詳細(xì)摘要: 美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統(tǒng),具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域,適用于多種樣品檢測。
產(chǎn)品型號:K系列 所在地:上海市 更新時間:2024-11-13 參考價: 面議 在線留言 -
博曼BOWMAN高性能XRF鍍層測厚儀 詳細(xì)摘要: B系列是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實(shí)現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置...
產(chǎn)品型號:B系列 所在地:上海市 更新時間:2024-11-13 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetrics薄膜測量儀 詳細(xì)摘要: Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率,F(xiàn)10-RT使Filmetrics的分析能力實(shí)現(xiàn)了同步測量反射率與穿透率。只要立即的...
產(chǎn)品型號:F10-RT 所在地:上海 更新時間:2024-09-04 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀 詳細(xì)摘要: Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費(fèi)離線分析軟件精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效的存儲,重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果
產(chǎn)品型號:F37 所在地:上海 更新時間:2024-08-08 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetrics 薄膜分析儀薄厚測量 詳細(xì)摘要: Filmetrics F10-RT 薄膜分析儀薄厚測量 同步測量薄膜的反射率/穿透率,如需了解更多,查詢。。。。
產(chǎn)品型號:F10-RT 所在地:上海 更新時間:2024-08-08 參考價: 面議 在線留言 -
美國Filmetrics F50 光學(xué)薄膜厚度測量儀 詳細(xì)摘要: 桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學(xué)膜厚測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的...
產(chǎn)品型號:Filmetrics-F50 所在地:上海 更新時間:2024-08-08 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 詳細(xì)摘要: Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ,精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反...
產(chǎn)品型號:F40 所在地:上海 更新時間:2024-08-08 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 詳細(xì)摘要: Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動平臺,可以非??焖俚亩ㄎ凰铚y...
產(chǎn)品型號:F60-t 所在地:上海 更新時間:2024-08-08 參考價: 面議 在線留言 -
FS-1單波長橢偏儀 詳細(xì)摘要: Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度...
產(chǎn)品型號:Film Sense FS-1 所在地:上海 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀 詳細(xì)摘要: -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀:不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟,還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過...
產(chǎn)品型號:F20 所在地:上海 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜厚度測量儀 詳細(xì)摘要: 借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統(tǒng),可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量,...
產(chǎn)品型號:F54-XY-200 所在地:上海市 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀 詳細(xì)摘要: -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀:F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤,加上附加的分光計,可達(dá)到四個不同的位置(EXR和UVX版本多...
產(chǎn)品型號:F32 所在地:上海 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜厚度測量儀 詳細(xì)摘要: 借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統(tǒng),可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供快速的厚...
產(chǎn)品型號:F54-XYT-300 所在地:上海市 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetrics薄膜厚度測量儀 詳細(xì)摘要: Filmetrics薄膜厚度測量儀:F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理,可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面...
產(chǎn)品型號:F3-sX系列 所在地:上海 更新時間:2023-08-25 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀 詳細(xì)摘要: Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng),如需了解更多 光學(xué)膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息,咨詢。
產(chǎn)品型號:F3-sX 所在地:上海 更新時間:2023-08-25 參考價: 面議 在線留言 -
HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀 詳細(xì)摘要: HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計,操作簡單,可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析,并輸出分析報告。是用于快速薄膜測...
產(chǎn)品型號:Auto SE 所在地:上海 更新時間:2023-08-22 參考價: 面議 在線留言 -
-Filmetrics膜厚測量儀 詳細(xì)摘要: -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)4...
產(chǎn)品型號:F54 所在地:上海 更新時間:2023-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
多波長橢偏儀 詳細(xì)摘要: Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可靠地薄膜測量...
產(chǎn)品型號:Film Sense FS-1 所在地:上海 更新時間:2023-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀 詳細(xì)摘要: HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學(xué)測量技術(shù),基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的...
產(chǎn)品型號:UVISEL Plus 所在地:上海 更新時間:2023-06-06 參考價: 面議 在線留言 -
HORIBA 智能型多功能橢偏儀 詳細(xì)摘要: HORIBA 智能型多功能橢偏儀,多功能性設(shè)計,配置靈活,具備多角度測量能力,可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進(jìn)行簡單,快速,表征和分析的...
產(chǎn)品型號:Smart SE 所在地:上海 更新時間:2023-06-06 參考價: 面議 在線留言